{"id":3655,"date":"2026-01-22T15:37:33","date_gmt":"2026-01-22T14:37:33","guid":{"rendered":"https:\/\/kmplg.sk\/?p=3655"},"modified":"2026-02-16T09:54:21","modified_gmt":"2026-02-16T08:54:21","slug":"laboratorium-skenovacej-mikroskopie-sem","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/kmplg.sk\/?p=3655","title":{"rendered":"Laborat\u00f3rium skenovacej mikroskopie (SEM)"},"content":{"rendered":"\n

Laborat\u00f3rium je vybaven\u00e9 modern\u00fdm skenovac\u00edm elektr\u00f3nov\u00fdm mikroskopom JEOL JSM\u2011IT210 <\/strong>(in\u0161talovan\u00fd koncom roka 2025), ktor\u00fd predstavuje nov\u00fa gener\u00e1ciu kompaktn\u00fdch a vysoko automatizovan\u00fdch SEM syst\u00e9mov. Pr\u00edstroj umo\u017e\u0148uje r\u00fdchle a presn\u00e9 zobrazovanie vzoriek v\u010faka motoricky ovl\u00e1dan\u00e9mu p\u00e4\u0165osov\u00e9mu stol\u00edku a inteligentn\u00fdm funkci\u00e1m, ako s\u00fa Simple SEM pre automatizovan\u00e9 sn\u00edmanie a Zeromag pre intuit\u00edvnu navig\u00e1ciu medzi optick\u00fdm a SEM obrazom.<\/p>\n\n\n\n

Mikroskop poskytuje vysok\u00e9 rozl\u00ed\u0161enie a je vybaven\u00fd integrovan\u00fdm syst\u00e9mom EDS (elektr\u00f3novo-disperzn\u00e1 anal\u00fdza), ktor\u00fd umo\u017e\u0148uje prvkov\u00fa anal\u00fdzu a tvorbu m\u00e1p distrib\u00facie prvkov. Pre detailnej\u0161iu anal\u00fdzu poskytuje syst\u00e9m topografick\u00e9 merania, l\u00edniov\u00e9-skenovanie<\/strong>, automatick\u00e9 zosn\u00edmanie celej alebo vybranej \u010dasti plochy<\/strong> vzorky \u010di 3D mapovanie <\/strong>\u010do v\u00fdrazne roz\u0161iruje mo\u017enosti charakteriz\u00e1cie sk\u00faman\u00fdch materi\u00e1lov. Detekovate\u013en\u00fd rozsah prvkov pri EDS anal\u00fdze pokr\u00fdva prakticky cel\u00fa periodick\u00fa tabu\u013eku od b\u00f3ru (B) a\u017e po ur\u00e1n (U)<\/strong>. Nap\u00e4tie je mo\u017en\u00e9 nastavi\u0165 v rozmedz\u00ed 0,3 a\u017e 30 kV.<\/p>\n\n\n\n

\"\"<\/figure>\n\n\n\n

 JSM\u2011IT210<\/strong> podporuje tie\u017e merania v n\u00edzkov\u00e1kuovom (LV) re\u017eime<\/strong>, ktor\u00fd umo\u017e\u0148uje zobrazova\u0165 pr\u00edp. analyzova\u0165 nevodiv\u00e9, biologick\u00e9, geologick\u00e9 a inak povrchovo neupraven\u00e9 vzorky bez potreby pokr\u00fdvania vzorky vodiv\u00fdm materi\u00e1lom. EDS syst\u00e9m<\/strong> je kompatibiln\u00fd aj s n\u00edzkov\u00e1kuov\u00fdm re\u017eimom, \u010do umo\u017e\u0148uje z\u00edskava\u0165 kvalitn\u00e9 prvkov\u00e9 mapy aj nevodiv\u00fdch materi\u00e1lov. Pon\u00faka tie\u017e stabiln\u00fa prev\u00e1dzku s redukovan\u00fdm nab\u00edjan\u00edm povrchu, \u010do m\u00e1 v\u00fdznamn\u00fd vplyv pri anal\u00fdze polym\u00e9rov, skiel, miner\u00e1lov \u010di biologick\u00fdch tkan\u00edv.<\/p>\n\n\n\n

\n
\n
\"\"<\/figure>\n<\/div>\n\n\n\n
\n
\"\"<\/figure>\n<\/div>\n<\/div>\n\n\n\n

V r\u00e1mci laborat\u00f3ria pon\u00fakame aj katodoluminiscen\u010dn\u00fa (CL) anal\u00fdzu<\/strong>, ktor\u00e1 dop\u013a\u0148a morfologick\u00e9 a chemick\u00e9 inform\u00e1cie z elektr\u00f3novej mikroskopie. T\u00e1to technika umo\u017e\u0148uje \u0161tudova\u0165 optick\u00e9 vlastnosti materi\u00e1lov, identifikova\u0165 defekty kry\u0161t\u00e1lovej mrie\u017eky, zon\u00e1lnos\u0165 miner\u00e1lov, ktor\u00e9 sa v SEM\/BSE obraze nemusia prejavi\u0165. CL anal\u00fdzu umo\u017e\u0148uje kombinovan\u00fd \u0161peci\u00e1lny SEM\/CL detektor.<\/p>\n\n\n\n

Pr\u00edstroj pri v\u00fdskume miner\u00e1lov, geologick\u00fdch a biologick\u00fdch vzoriek a in\u00fdch materi\u00e1lov umo\u017e\u0148uje robi\u0165:<\/strong><\/p>\n\n\n\n